工艺陶瓷放射性无损检测研究现状
任可用, 郭志勇
笔者简要介绍了工艺陶瓷的产品特点、受欢迎的原因及产业发展状况,简述了工艺陶瓷放射性的危害以及其放射性的来源,对比介绍了用于工艺陶瓷放射性检测的NaI闪烁体γ能谱仪和高纯锗γ能谱仪的性能特点和国家标准规定的简要流程,简单描述了可进行放射性无损检测的无源效率刻度技术,讨论了其相比有源效率刻度的优势,并分别介绍了蒙特卡洛法和数值积分法无源效率刻度的原理和国内外学者的验证,最后提出无源效率刻度法HPGeγ能谱仪是实现工艺陶瓷放射性无损检测的途径,指出了未来需要解决的研究难点。
