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ISSN 2095-784XCN 36-1205/TS
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景德镇陶瓷大学主办

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铜离子注入(Ba1-xSrx)TiO3半导体陶瓷的交流阻抗特性

王国梅
徐晓虹
吴建锋
杜慧玲
勾焕林

[1] 武汉工业大学材料学院!,武汉工业大学材料学院,武汉工业大学材料学院,武汉工业大学材料学院,清华大学新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室

陶瓷学报 1997年 / 02期78-85
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摘要

本文测量了铜离子注入(Ba(1-x)Srx)TiO3半导体陶瓷样品在25~180℃,10Hz~13MHz之间的交流阻抗。根据等效电路模型与阻抗谱的变化,分析了注入样品的晶粒电阻、晶界电阻及其对温度的依从位以及样品的PTCR特性。研究表明,注入剂量为6×1015ions/cm2时,可以提高材料的PTCR效应。此外,辅以XPS和阻温特性测量分析注入铜离子的状态及样品的PTCR特性。

关键词

(Ba,Sr)TiO3半导瓷离子注入阻抗谱

参考文献

共0条
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